Исследование покрытий:
Высокочувствительные измерения от вакуумного УФ до ближнего ИК-диапазона, большое кюветное отделение для исследования изменений свойств покрытий
Полупроводники:
Анализ поверхности полупроводников
Оптические материалы:
Высокочувствительное измерение антиотражающих покрытий в ближнем ИК-диапазоне
Оптика:
Высокочувствительные измерения от вакуумного УФ до ближнего ИК-диапазона, большое кюветное отделение
Особенности SolidSpec-3700/3700DUV
Высокая чувствительность
В обычных спектрофотометрах фотоэлектронный умножитель, используемый в качестве детектора для ультрафиолетовой и видимой области, и PbS детектор для измерений в ближнем ИК-диапазоне не могут обеспечить высокую чувствительность на границе ближнего ИК и видимого диапазонов. SolidSpec-3700 / 3700 DUV успешно решает данную проблему.
Это первый спектрофотометр для УФ-видимого и ближнего ИК-диапазона с тремя детекторами: ФЭУ + полупроводниковые на основе InGaAs и PbS. Полупроводниковые детекторы обеспечивает чрезвычайно высокую чувствительность на границе ближней ИК-области и видимого диапазона. Низкие значения шума при работе с малопрозрачными образцами делают данный спектрофотометр незаменимым. Эта особенность неоценима при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.
Измерения в вакуумном УФ
SolidSpec-3700 DUV работает в вакуумном УФ от 165 нм (от 175 нм с интегрирующей сферой) с очень низкими значениями рассеянного света. Оптический блок и кюветное отделение продуваются азотом с целью удаления кислорода, поглощающего в области ниже 190 нм. Спектральный диапазон для измерений с использованием интегрирующей сферы — от 175 нм до 2600 нм.
Дополнительный модуль для прямого измерения в ультрафиолете (Direct detection unit DUV) позволяет расширить данный диапазон от 165 до 3300 нм и проводить измерения без использования интегрирующей сферы.
Работа с большими образцами
Большое отделение для образцов (900мм x 700мм x 350мм) позволяет удобно разместить образцы максимальной величины 700мм х 560 мм х 40 мм. Вертикальное расположение оптического пучка позволяет проводить измерения образцов, расположенных горизонтально. Возможно измерение по всей поверхности образца площадью 310 х 310 мм2. Автоматическая система перемещения образца позволяет проводить измерения в предварительно заданной точке образца с одновременной продувкой азотом. Достаточное количество необходимых приставок, таких как приставка нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) и др. значительно расширяют области применения данного спектрофотометра.
Приставки и аксессуары (опция)
Блок детектирования DDU-DUV (для анализа твердых и жидких проб)
Устройство прецизионной подвижки, может смещаться по X-Y (для автоматизации измерений)
Приставка для измерения зеркального отражения
Блок для очистки азота
Приставка абсолютного зеркального отражения с возможностью измерения при разных углах (5⁰, 12⁰, 30⁰, 45⁰)
Интегрирующая сфера
Технические характеристики спектрофотометров SolidSpec-3700/3700DUV
(* измерения проводили с использованием Дополнительного модуля для прямого измерения в ультрафиолете DDU-DUV)
Программное обеспечение
Программное обеспечение UVProbe включает в себя функции для измерения спектра, количественного анализа, кинетики и вывода полученных результатов в виде отчета.
Высокочувствительные измерения от вакуумного УФ до ближнего ИК-диапазона, большое кюветное отделение для исследования изменений свойств покрытий
Полупроводники:
Анализ поверхности полупроводников
Оптические материалы:
Высокочувствительное измерение антиотражающих покрытий в ближнем ИК-диапазоне
Оптика:
Высокочувствительные измерения от вакуумного УФ до ближнего ИК-диапазона, большое кюветное отделение
Особенности SolidSpec-3700/3700DUV
Высокая чувствительность
В обычных спектрофотометрах фотоэлектронный умножитель, используемый в качестве детектора для ультрафиолетовой и видимой области, и PbS детектор для измерений в ближнем ИК-диапазоне не могут обеспечить высокую чувствительность на границе ближнего ИК и видимого диапазонов. SolidSpec-3700 / 3700 DUV успешно решает данную проблему.
Это первый спектрофотометр для УФ-видимого и ближнего ИК-диапазона с тремя детекторами: ФЭУ + полупроводниковые на основе InGaAs и PbS. Полупроводниковые детекторы обеспечивает чрезвычайно высокую чувствительность на границе ближней ИК-области и видимого диапазона. Низкие значения шума при работе с малопрозрачными образцами делают данный спектрофотометр незаменимым. Эта особенность неоценима при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.
Измерения в вакуумном УФ
SolidSpec-3700 DUV работает в вакуумном УФ от 165 нм (от 175 нм с интегрирующей сферой) с очень низкими значениями рассеянного света. Оптический блок и кюветное отделение продуваются азотом с целью удаления кислорода, поглощающего в области ниже 190 нм. Спектральный диапазон для измерений с использованием интегрирующей сферы — от 175 нм до 2600 нм.
Дополнительный модуль для прямого измерения в ультрафиолете (Direct detection unit DUV) позволяет расширить данный диапазон от 165 до 3300 нм и проводить измерения без использования интегрирующей сферы.
Работа с большими образцами
Большое отделение для образцов (900мм x 700мм x 350мм) позволяет удобно разместить образцы максимальной величины 700мм х 560 мм х 40 мм. Вертикальное расположение оптического пучка позволяет проводить измерения образцов, расположенных горизонтально. Возможно измерение по всей поверхности образца площадью 310 х 310 мм2. Автоматическая система перемещения образца позволяет проводить измерения в предварительно заданной точке образца с одновременной продувкой азотом. Достаточное количество необходимых приставок, таких как приставка нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) и др. значительно расширяют области применения данного спектрофотометра.
Приставки и аксессуары (опция)
Блок детектирования DDU-DUV (для анализа твердых и жидких проб)
Устройство прецизионной подвижки, может смещаться по X-Y (для автоматизации измерений)
Приставка для измерения зеркального отражения
Блок для очистки азота
Приставка абсолютного зеркального отражения с возможностью измерения при разных углах (5⁰, 12⁰, 30⁰, 45⁰)
Интегрирующая сфера
Технические характеристики спектрофотометров SolidSpec-3700/3700DUV
| Спектральный диапазон |
SolidSpec-3700: стандартная модель 240–2600 нм; с использованием приставки для прямого детектирования 190–3300 нм. SolidSpec-3700DUV: модель для измерения в глубоком УФ 175–2600 нм; с использованием приставки для прямого детектирования 165–3300 нм. |
|
|---|---|---|
| Спектральная ширина щели |
8-ступенчатая: 0,1; 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8 нм в УФ/видимой области 10-ступенчатая: 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8; 12; 20; 32 нм в ближней ИК области |
|
| Разрешение(*) | 0,1 нм | |
| Шаг по длине волны | от 0,01 до 5 нм | |
| Точность отображения длины волны | шаг 0,01 нм | |
| Погрешность установки длины волны(*) |
± 0,2 нм в УФ / видимой области ± 0,8 нм в ближней ИК области |
|
| Воспроизводимость длины волны(*) |
± 0,08 нм в УФ/видимой области ± 0,32 нм в ближней ИК области |
|
| Скорость сканирования длины волны |
Максимально 3600 нм/ в минуту для ФЭУ и InGaAs-детектора Максимально 1600 нм/ в минуту для PbS-детектора |
|
| Переключение ламп | Автоматическое переключение (можно выбрать в интервале между 282 и 393 нм с шагом 0,1 нм) | |
| Уровень рассеянного излучения(*) |
< 0,00008% (220 нм, NaI) < 0,00005% (340 нм, NaNO2) < 0,0005% (1420 нм, H2O) < 0,005% (2365 нм, CHCl3) |
|
| Уровень шума |
0,0002 Abs или менее (500 нм) 0,00005 Abs или менее (1500 нм), щель 8 нм, пост. времени 1 с |
|
| Колебания базовой линии |
± 0,003 Abs (от 240 до 350 нм), ± 0,002 Abs (от 350 до 1600 нм), ± 0,004 Abs (от 1600 до 2600 нм), ± 0,001 Abs (от 200 до 3000 нм) при использовании DDU |
|
| Дрейф | SolidSpec-3700 0,0002 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с) SolidSpec-3700DUV 0,0003 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с) | |
| Источники света |
50 Вт галогенная лампа (2000 часов работы) Дейтериевая лампа (1250 часов работы) Встроенное автоматическое позиционирование ламп. |
|
| Монохроматор | Двойной монохроматор с дифракционными решетками | |
| Детекторы |
УФ/видимая область: ФЭУ (типа R928 для SolidSpec-3700, R955 для SolidSpec-3700DUV) Ближняя ИК область: InGaAs фотодиод и охлаждаемый PbS |
|
| Фотометрический диапазон | от –6 до 6 Abs | |
| Оптическая схема | Двухлучевая | |
| Размеры, масса | 1000 x 800 x 1200 мм (Ш х Г х В), 170 кг | |
(* измерения проводили с использованием Дополнительного модуля для прямого измерения в ультрафиолете DDU-DUV)
Программное обеспечение
Программное обеспечение UVProbe включает в себя функции для измерения спектра, количественного анализа, кинетики и вывода полученных результатов в виде отчета.